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HORIBA堀場X射線熒光有害元素分析儀
HORIBA XGT-1000WR主要技術指標:
1、 分析元素:Si~UCd/Pb高精度型;Na~U選擇:φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型
2、 檢測精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內部尺寸:不超過460×360 mm高150 mm
4、X射線照射徑:φ1.2 mm可選:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換
5、 檢測器:高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設備重量:約 265 kg不含桌子、計算機
7、 外形尺寸:分析部分:610W×750D×500Hmm
8、 信號處理部:220W×500D×480Hmm
9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT技術實現了微小面積、高X射線能量聚焦測量,確保了微區測量、快速測量、高精度測量。
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